-
Nicomp 380 Z3000 纳米粒径与Zeta电位分析仪
(步长0.9°)检测分析液态纳米颗粒系的粒度及粒度分布,又可以小角度测量Zeta电位。粒度测试范围:0.3 nm – 10 µm。 NICOMP 380 Z3000纳米粒径与电位分析仪通过检测分析
-
Nicomp Z3000 纳米粒径与Zeta电位分析仪
380 Z3000 亚微米粒径电位检测仪 参数: 粒径测量范围粒度分析:0.3 nm - 10 μm分析方法粒度分析:动态光散射,Gaussian 单峰算法和 NiComp 无约束自由拟合多峰
-
Nicomp 380 在线粒径检测仪
搭载ZETA电位检测模块,还可增加自动稀释和自动滴定等辅助测试模块工作原理:动态光散射原理 Nicomp 380纳米粒径分析仪采用动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS
-
380 Z3000 纳米粒度仪
有关) Nicomp 380 ZLS采用动态光散射原理,对样品进行粒度检测的同时还可以测试样品的Zeta电位值。本仪器使用模块化设计,可以根据客户需要进行个性化功能化设计。仪器检测灵敏度高,采用
-
Nicomp 380 DLS 纳米粒径检测仪
Nicomp多峰算法结合模块化设计可同机搭载ZETA电位检测模块,还可增加自动稀释和自动滴定等辅助测试模块功能全面使用简捷 专为复杂体系提供高精度粒度解析方案 NICOMP呈现的不仅仅是传统
-
激光粒度电位检测仪
体系的分析以及胶体体系的稳定性分析具有独特优势,其优异的解析度及重现性是其他同类产品无可比拟的。整机采用模块化设计,可灵活方便地扩展Zeta电位等其它功能。 Nicomp 380 激光粒度电位
-
Zeta电位仪
于测定等电点、研究界面反应过程的机理。通过测定颗粒的Zeta电位,求出等电点,是认识颗粒表面电性的重要方法,在颗粒表面处理中也是重要的手段。与国内外其它同类型仪器相比,它具有显著的优越性。可广泛
-
Zeta电位仪
-
zeta电位仪
-
ZETA电位仪
探头, 自动连续对环境温度进行采样, 返回计算机,自动调整参数,用于计算Zeta电位。采用计算机多媒体技术, 在给定的节拍下, 自动对经高倍放大1200倍的超细颗粒连续“拍照”,提供双向共四幅灰度图像
想在此推广您的产品吗?
咨询热线: 010-84839035
联系邮箱: sales@antpedia.net